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原子力顯微鏡(AtomicForceMicroscopy，AFM)是一種具有原子級(jí)別高分辨率的新型表面分析儀器，它不但能像掃描隧道顯微鏡(STM)那樣觀(guān)察導(dǎo)體和半導(dǎo)體材料的表面現(xiàn)象，而且能用來(lái)觀(guān)察諸如玻璃、陶瓷等非導(dǎo)體表面的微觀(guān)結(jié)構(gòu)，還可以在氣體、水和油中無(wú)損傷地直接觀(guān)察物體，大大地拓展了顯微技術(shù)在生命科學(xué)、物理、化學(xué)、材料科學(xué)和表面科學(xué)等領(lǐng)域中的應(yīng)用。AFM主要由掃描隧道顯微鏡(STM)發(fā)展而來(lái)，其基本原理相似。AFM通過(guò)一個(gè)微小的針尖與樣品表面相互作用，以實(shí)現(xiàn)高分辨率的表...

光電探測(cè)器的原理是由輻射引起被照射材料電導(dǎo)率發(fā)生改變，在各個(gè)領(lǐng)域有廣泛用途。光電探測(cè)器的核心參數(shù)主要有工作波長(zhǎng)、帶寬、上升時(shí)間和響應(yīng)度，它們是評(píng)估光電探測(cè)器性能的關(guān)鍵指標(biāo)，也是光電探測(cè)器選型的重要依據(jù)。在選擇光電探測(cè)器時(shí)，需要根據(jù)具體應(yīng)用需求來(lái)平衡這些指標(biāo)，以獲得良好的檢測(cè)性能。1、工作波長(zhǎng)光電探測(cè)器的工作波長(zhǎng)是指其可以感測(cè)到的光信號(hào)的波長(zhǎng)范圍，通常與探測(cè)器的材料有關(guān)?；诠怆娞綔y(cè)器的工作原理，當(dāng)入射光的能量(hv)大于材料的禁帶寬度時(shí)，價(jià)帶的電子才可以躍遷到導(dǎo)帶形成光電流，...

煤巖分析(petrographicanalysisofcoal)是指以光學(xué)顯微鏡為主要主具兼用肉眼和其他手段，對(duì)煤的巖石組成、結(jié)構(gòu)、性質(zhì)、煤化度作定性描述和定量測(cè)定的方法。是研究煤帶學(xué)的重要手段。最常規(guī)的分析項(xiàng)目是煤巖顯微組分和礦物質(zhì)的測(cè)定、鏡質(zhì)組反射率測(cè)定、顯微煤巖類(lèi)型測(cè)定和宏觀(guān)描述。全自動(dòng)煤巖分析系統(tǒng)是一種用于冶金工程技術(shù)領(lǐng)域的分析儀器，用于巖礦、石油顯微組織的觀(guān)察與分析。Fossil全自動(dòng)煤巖分析系統(tǒng)是一種測(cè)試鏡質(zhì)體反射率和煤品分析系統(tǒng)。該系統(tǒng)自動(dòng)化程度高，所有操作可在...

X射線(xiàn)衍射儀XRD是一種用于分析晶體結(jié)構(gòu)的重要儀器。它通過(guò)測(cè)量晶體中X射線(xiàn)的散射模式來(lái)確定晶體的晶格結(jié)構(gòu)和晶體面取向。X射線(xiàn)衍射技術(shù)在材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域都有著廣泛的應(yīng)用。X射線(xiàn)衍射技術(shù)早期由德國(guó)科學(xué)家玻爾默于1912年發(fā)現(xiàn)，并被廣泛應(yīng)用于研究晶體結(jié)構(gòu)。是通過(guò)使用X射線(xiàn)管產(chǎn)生X射線(xiàn)，然后將X射線(xiàn)照射到待測(cè)樣品上，記錄X射線(xiàn)經(jīng)過(guò)樣品后的散射模式來(lái)確定晶體結(jié)構(gòu)的儀器。X射線(xiàn)衍射儀XRD可以幫助科學(xué)家們研究材料的晶體結(jié)構(gòu)和性質(zhì)，從而為新材料的開(kāi)發(fā)和應(yīng)用提供重要的參考?？梢?..

鎢燈絲掃描電鏡是一款高性能、應(yīng)用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。它的總發(fā)射電流和束斑都較大，抗干擾能力和穩(wěn)定性都較好，低真空下可以對(duì)不導(dǎo)電樣品無(wú)荷電成像，可用于形貌觀(guān)察、顯微結(jié)構(gòu)分析、斷口形貌分析，在材料、地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、機(jī)械、化學(xué)、化工、物理、電子、生物、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域都有廣泛的用途。工作原理：通過(guò)對(duì)電子槍內(nèi)的鎢燈絲加高電壓，使電子槍處于熱激發(fā)狀態(tài)，在陽(yáng)極作用下，處于熱激發(fā)的電子槍就可以激發(fā)出電子束。經(jīng)過(guò)掃描線(xiàn)圈磁場(chǎng)的控制，電子束在樣品表面逐點(diǎn)掃描，激發(fā)出二次電子、背散射電...

在高溫環(huán)境下進(jìn)行X射線(xiàn)衍射(XRD)實(shí)驗(yàn)通常需要特殊的設(shè)備和工作流程。以下是一個(gè)可能的高溫環(huán)境XRD工作流程：1.準(zhǔn)備樣品：選取要進(jìn)行XRD分析的高溫樣品，并將其準(zhǔn)備好。樣品可能是固體、液體或氣體，具體準(zhǔn)備方式根據(jù)樣品的性質(zhì)而定。2.裝載樣品：將準(zhǔn)備好的高溫樣品裝載到適用于高溫環(huán)境的XRD樣品臺(tái)上。確保樣品臺(tái)能夠在高溫條件下穩(wěn)定地支撐樣品，并確保樣品能夠受到均勻的加熱。3.設(shè)定X射線(xiàn)衍射儀器：根據(jù)樣品的性質(zhì)和所需的實(shí)驗(yàn)參數(shù)，設(shè)定X射線(xiàn)衍射儀器的參數(shù)，包括X射線(xiàn)管電壓和電流、角...

原子力顯微鏡是一種可用來(lái)研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過(guò)檢測(cè)待測(cè)樣品表面和一個(gè)微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來(lái)研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)。將一對(duì)微弱力非常敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時(shí)它將與其相互作用，作用力將使得微懸臂發(fā)生形變或運(yùn)動(dòng)狀態(tài)發(fā)生變化。掃描樣品時(shí)，利用傳感器檢測(cè)這些變化，就可獲得作用力分布信息，從而以納米級(jí)分辨率獲得表面形貌結(jié)構(gòu)信息及表面粗糙度信息。原子力顯微鏡具有哪些優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)？1.高分辨力能力遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)掃描電...